歷時6年的研發，荷蘭飛納公司于2018年推出了首套穩定運行的臺式場發射（FEG）電鏡能譜一體機Phenom LE臺式場發射電鏡能譜一體機，采用肖特基場發射電子槍（FEG），集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析于一體。飛納臺式場發射電鏡操作簡單，效率高，無需防震臺和磁屏蔽，無樓層要求，只需要一張承重200kg的桌子。
Delphi CLEM熒光掃描電鏡一體機是荷蘭掃描電鏡制造商 Phenom-World 和荷蘭熒光顯微鏡制造商 Delmic 于 2014 年聯合推出的將熒光顯微鏡和臺式電鏡高度整合在一起的設備。
Phenom GSRqiang擊殘留物臺式掃描電鏡在qiangzhi犯罪事件中，qiang擊殘留物 GSR 的分析將發揮重要的作用。GSR 分析技術首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來掃描樣品和發現可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發現可疑的顆粒，使用能譜識別在該粒子中的元素。Z常見的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測，例如 Ti 和 Zn 也可Z為搜索條件進行搜索。
Phenom Pure 高性價比標準版電子顯微鏡是一款操作方便、界面友好的臺式電鏡，用慣光學顯微鏡的用戶只需稍加培訓即可輕松操作這款電鏡。這款電鏡具有掃描電鏡的一切基本功能，可以滿足用戶的大部分成像需求。
Phenom Pro高分辨率專業版電子顯微鏡是飛納電鏡系列中良好的產品，第五代 Phenom Pro 放大倍數提升為 150,000 倍，分辨率優于 8 nm，30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像，是目前世界上分辨率Z高的臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；
Phenom ProX 是第五代電鏡能譜一體機，是*的集成化成像分析系統，分辨率提升 20%，進一步增加應用范圍，更加適用于對電子束敏感的樣品。借助該系統，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。
